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PRODUKTINNOVATION
Fraunhofer IPMS
Light Deflection Cube Evaluationkit für einachsige MEMS-Scannerspiegel via Internet

Das Light Deflection Cube (LDC) Evaluationkit des Fraunhofer-Instituts für Photonische Mikrosysteme IPMS kann ab sofort für einachsige MEMS-Scannerspiegel via Internet kundenspezifisch konfiguriert und angefragt werden. Der Zugang zur Scannerspiegeltechnologie soll damit erleichtert werden.

Licht über eine Achse abzulenken, ist der Schlüssel für eine Vielzahl von Anwendungen wie Strichcodelesen, Laserprojektion von Bildern oder dreidimensionale Objektvermessung. Resonant schwingende Mikroscannerspiegel, kurz Mikroscanner, wie sie am Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme IPMS seit Jahren entwickelt werden, sind dabei die Technologie der Wahl, wenn es darum geht, kompakte, energieeffiziente, robuste und vor allem preiswerte Systeme zu bauen. Denn die aus Silizium gefertigten Schwingspiegel sind im Durchmesser nur 0,5 mm bis 3 mm groß und für eine kostengünstige Massenfertigung prädestiniert.

Dennoch bewegt sich die Zahl der auf Mikroscanner basierenden Produkte noch in überschaubaren Grenzen. »Die Entwicklung von komplexen MEMS-Bauelementen wie unseren Scannerspiegeln ist nicht nur zeitintensiv und mit hohen Kosten verbunden«, erklärt Denis Jung, Projektleiter am Fraunhofer IPMS. »Auch die Integration der Mikroscanner, Positionserkennung und Steuerungselektronik in die Systemumgebung bedeutet für mögliche Anwender ein Hindernis, Mikroscannertechnologie in ihrer Produktentwicklung zu berücksichtigen«.

Mit dem Vertrieb des LDC-Evaluation-Kits über das Internet unterstützt das Fraunhofer IPMS seine Kunden dabei, den technologischen Anforderungen immer kürzerer Produktentwicklungszyklen gerecht zu werden. Das auf einem standardisierten, konfigurierbaren VarioS® MEMS-Spiegel basierende, gehäuste Light Deflection Cube Evaluationkit umfasst neben dem MEMS-Spiegel einen Positionssensor, die komplette Ansteuerungselektronik sowie eine Software-Schnittstelle für die Spezifikation der Betriebsparameter.

Weitere Informationen unter http://www.ipms.fraunhofer.de/


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 News - 19.06.2013
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