Keithley Instruments stellt eine Reihe von Hardware-, Firmware- und Software-Erweiterungen für sein Halbleiter-Charakterisierungssystem Modell 4200-SCS vor. Der Upgrade für die Keithley Test Environment Interactive (KTEI) V7.2 beinhaltet neun neue Testbibliotheken für Solarzellen, einen erweiterten Frequenzbereich für die C-V-Messfunktion (Kapazität-Spannung) des Systems und eine Unterstützung für das neue Instrumenten-Chassis des Modells 4200-SCS mit neun Steckplätzen.

Die neuen in KTEI V7.2 enthaltenen Testbibliotheken erweitern die Möglichkeiten des Modells 4200-SCS auf I-V- und C-V-Tests, sowie Messungen des spezifischen Widerstands für Solarzellen. Derartige Messungen werden auf Grund des wachsenden Interesse und der staatlichen Förderung von alternativen Energie-Technologien zunehmend wichtiger. Der Software-Upgrade unterstützt auch DLCP-Messungen (Drive-Level Capacitance Profiling), ein neues Testverfahren für Solarzellen, das mit den bislang erhältlichen Testlösungen nur schwierig durchführbar war. DLCP liefert Informationen zur Fehlerdichte bei Dünnfilm-Solarzellen. Bestehende C-V-Karten (Kapazität-Spannung) des Modells 4200-CVU, die im November 2007 vorgestellt wurden, können für dieses Testverfahren modifiziert werden.

Der Frequenzbereich des Modells 4200-CVU wurde zur Unterstützung der DLCP-Tests von 10kHz-10MHz auf 1kHz-10Mz erweitert. Dieser vergrößerte Frequenzbereich erweitert auch den Anwendungsbereich des Systems, so dass ein Test von LCDs und organischen Halbleitern, wie OLEDs (Organic Light-Emitting Diode), unterstützt wird.

Durch die zunehmende Verbreitung von I-V-, Impuls- und C-V-Charakterisierungen benötigen die Anwender des Modells 4200-SCS eine außerordentliche Testflexibilität und umfassende Möglichkeiten, wofür die Grundsysteme allerdings oftmals zu wenige Steckplätze enthalten. Im Hinblick auf diese Anforderung unterstützt der Upgrade V7.2 nun ein Instrumenten-Chassis mit neun Steckplätzen. Bislang verfügte das Modell 4200-SCS nur über acht Steckplätze für Source-Measure Units (SMUs), Impulsgenerierungs- und Oszilloskopkarten, sowie Kapazität-Spannungskarten. Bestehende Systeme des Modells 4200-SCS können auf neun Steckplätze umgerüstet werden; alle neuen Grundsysteme verfügen künftig über neun Steckplätze.

In Ergänzung zum Upgrade V7.2 hat Keithley auch ein neues leistungsfähiges Triax-Kabelset für die Verbindung des Modell 4200-SCS mit einem Prober entwickelt, das die Umschaltung zwischen DC I-V-, C-V- und Impulstest-Konfigurationen vereinfacht. Durch das neue Kabelset ist keine Änderung der Verkabelung mehr notwendig, zudem lassen sich die meist durch Verbindungsfehler verursachten Messfehler vermeiden. Zwei Versionen des Kabelsets sind verfügbar: eines für Cascade Microtech Prober und das Andere für SUSS MicroTec Prober.

Kontinuierliche Systemerweiterungen gewährleisten hohe Produktivität

Das Modell 4200-SCS von Keithley ersetzt verschiedene elektrische Testwerkzeuge durch eine einzige, hoch integrierte Charakterisierungslösung, die sich für unterschiedlichste Anwendungen eignet. Diese reichen von der Entwicklung von Halbleitertechnologien und Prozessen, über die Erforschung der Materialzuverlässigkeit, sowie die Erforschung von Materialien und Bauteilen bis hin zu Laboranwendungen, die ein Benchtop-DC- oder Impulsinstrument benötigen. Keithley hat die Hardware und Software des Modells 4200-SCS seit der ersten Vorstellung immer wieder verbessert. Diese kontinuierliche Systeminnovation gewährleistet einen kostengünstigen Upgrade-Pfad, so dass die Anwender keinen neuen Parameter-Analysator kaufen müssen, nur weil das vorhandene System veraltet ist. Die Systeme lassen sich kostengünstig erweitern und sind damit für die steigenden Anforderungen weiterhin geeignet, zudem können die Investitionen in ein Modell 4200-SCS gegenüber anderen Testlösungen über viele Jahre verteilt werden.